[3] 光偏振态斯托克斯参量的测量方法及系统 专利号:ZL201010300058.X 授权时间:2012.09.05



摘要:本发明涉及一种光偏振态斯托克斯参量的测量方法及系统,该测量方法包括以下步骤:1)获取扩展平行光束;2)将步骤1)所得到的扩展平行光束在空间上分为互相分开的、完全相同的四束分光束;3)对步骤2)所得到的四束分光束分别进行调制并测量其光强度;4)根据测量的光强度计算描述光偏振态的斯托克斯参量。本发明提供了一种光路结构对称、调节简单方便、能量利用率高、可对光信息进行快速实时测量与处理的光偏振态斯托克斯参量的测量方法及系统。


发明人:高宏文; 张淳民; 赵葆常


授权时间:2012.09.05




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